光學測量儀器_第(61)頁-筱曉（上海）光子技術有限公司

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光學測量儀器

相機線寬測量儀光度儀/反射計偏振分析儀/旋光儀顯微OCT掃頻測振/磁光克爾探測卡/感應卡觀察儀/觀察鏡波前分析儀/波前傳感器示波器精密定位/光學平臺功率計自準直儀光譜分析儀脈寬測量(相關儀等) 光束/光斑質量分析儀干涉儀/標準具波長計相機/鏡頭/機器視覺

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紫外線光譜儀光譜范圍190-850nm

紫外線光譜儀光譜范圍190-850nm UV-470-151產品是一款完整的光譜儀裝置，內含像差校正的凹面全息光柵和濱松光子S11151-2048 CCD探測器，在光譜范圍190-850 nm內具有出色的性能。關于OEM應用，您可以選擇狹縫的尺寸或訂購不帶驅動板的UV-470。

更新時間：2024-12-04

產品型號：UV-470-151

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190-850nm 紫外線光譜儀 UV-470-standard

190-850nm 紫外線光譜儀 UV-470-standard UV-470 光譜儀內含一個像差校正的凹面全息光柵，在UV區域提供極限性能。UV-470光譜儀的工作光譜范圍為190-850 nm。單個全息光學元件設計，提供低雜散光（0.07%@340nm），能夠提高信噪比。關于OEM應用，您可以選擇狹縫地尺寸或訂購不帶驅動板的UV-470

更新時間：2025-03-07

產品型號：uv-470-standard

瀏覽量：1330
2-16um中遠紅外光束質量分析儀

2-16um中遠紅外光束質量分析儀中遠紅外光束質量分析儀基于相機的光束分析系統是使用極廣泛的，它無法獲得最高分辨率，但是對于低重復頻率脈沖激光、非高斯形狀光束或者一般用途的光束分析應用，相機型光束分析儀是很好的選擇。

更新時間：2024-12-04

產品型號：MP-S-WCD-IR-BB-30

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BeamOn IR1550 光束質量分析儀 ( 1550nm±50nm)

BeamOn IR1550 光束質量分析儀 ( 1550nm±50nm) 產品總覽 BeamOn 是光束診斷測量系統，用于實時測量連續或脈沖激光光束，可測量激光光束參數，包括強度輪廓、光束寬度、形狀、位置、功率。軟件還具有報告功能，用于光束分析設置和給出結果。

更新時間：2025-01-16

產品型號：

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BeamOn U3-VIS NIR光束質量分析儀 350-1600nm

BeamOn U3-VIS NIR光束質量分析儀 350-1600nm 產品總覽 U3光束質量分析儀是一種光束測量系統，用于實時測量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統是用于連續或脈沖激光束實時測量的光束診斷測量系統。它提供了激光光束參數的廣泛的圖形表示和分析能力，如:光束寬度、形狀、位置、功率和強度輪廓。BeamOn是一個USB3.0設備級的軟件驅動設備，駐留在用戶提供的主機中。

更新時間：2024-12-04

產品型號：

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