光學測量儀器_第(70)頁-筱曉（上海）光子技術有限公司

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光學測量儀器

相機線寬測量儀光度儀/反射計偏振分析儀/旋光儀顯微OCT掃頻測振/磁光克爾探測卡/感應卡觀察儀/觀察鏡波前分析儀/波前傳感器示波器精密定位/光學平臺功率計自準直儀光譜分析儀脈寬測量(相關儀等) 光束/光斑質量分析儀干涉儀/標準具波長計相機/鏡頭/機器視覺

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h.n·u· 240（相機/鏡頭/機器視覺）

h.n·u· 240（相機/鏡頭/機器視覺）為自適應光學設計，超過3000幀每秒的全幀成像，甚至在接近黑暗的環境中也能成像。重新定義EMCCD低光成像的新標準，低光成像的新標準。優秀的信噪比(SNR)，得益于: **電子技術減少了EMCCD相機固有的噪聲，實現了真正的光子計數

更新時間：2025-03-10

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h.n·u· TDI（相機/鏡頭/機器視覺）

h.n·u· TDI（相機/鏡頭/機器視覺）時間延遲積分（TDI）原理：這是一種基于累積曝光概念的讀出模式，攝像機同步將電荷從一行轉移到下一行，速度與物體在檢測器下方的運動速度相同，從而實現對同一物體的多次曝光積累。為高靈敏度時間延遲積分模式（TDI），低光成像的新標準，NÜVÜ™ TDI攝像機優化用于要求苛刻的掃描應用。

更新時間：2025-03-10

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橫河AQ6150B 近紅外高精度激光波長計 900-1700nm 精度 ±0.7ppm

橫河AQ6150B 近紅外高精度激光波長計 900-1700nm 精度 ±0.7ppm 橫河憑借著在光測試測量領域擁有的廣泛客戶經驗，設計出了shi界上可靠性高且廣泛通用的光波長計。 AQ6150B系列具有特定的技術特點，完quan有能力測量光子技術應用中使用的各種設備和系統，可以說是高成效的光波長測量儀器。

更新時間：2025-03-18

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OBR 5T-50 背光反射計 1546.69nm (8.5m或16m測量長度適用生產線)

OBR 5T-50 背光反射計 1546.69nm (8.5m或16m測量長度適用生產線) 光學后向散射反射儀TM OBR 5T-50是一款快速、簡單易用、低成本的精密反射儀，可測量無源光學組件和模塊（包括PLC、光纜、連接器、開關、耦合器等）的插入損耗（IL）和回波損耗（RL）分布。該儀器利用掃頻干涉測量法測量作為距離函數的后向散射光，靈敏度為-125 dB，采樣分辨率為20微米。OBR 5T

更新時間：2025-02-24

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OBR 4613 背光反射計 O波段 (30-70m測量長度 10um空間分辨率適用實驗室)

OBR 4613 背光反射計 O波段 (30-70m測量長度 10um空間分辨率適用實驗室) 光學后向散射反射儀(Optical Backscatter Reflectometer) Luna OBR 4600是Luna屢獲殊榮的光學后向反射儀TM產品線的一部分。OBR 4600專為組件和短期網絡測試和故障排除而設計，可實現具有反向散射水平靈敏度的超高分辨率反射計。

更新時間：2025-02-24

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瀏覽量：1827

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